微分幹涉金相顯微鏡 DMM-1200C

微分幹涉金相顯微鏡 DMM-1200C

DMM-1200微分幹涉金相顯微鏡（DIC)采用優(you) 質的無限遠光學係統，微分幹涉相襯顯微鏡適用於(yu) 對多種物體(ti) 的顯微觀察。配置落射DIC觀察係統與(yu) 透射照明係統、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體(ti) 感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀(yi) 器，可選用微分幹涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好,是針對半導體(ti) 晶圓檢測、太陽能矽片製造業(ye) 、電子信息產(chan) 業(ye) 、治金工業(ye) 開發的，作為(wei) 高級工業(ye) 金相顯微鏡使用;可進行明場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用於(yu) 工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池矽片、半導體(ti) 晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。

詳細介紹技術參數

一、 DMM-1200C型微分幹涉金相顯微鏡的主要用途和特點：

  DMM-1200微分幹涉金相顯微鏡（DIC)采用優(you) 質的無限遠光學係統，微分幹涉相襯顯微鏡適用於(yu) 對多種物體(ti) 的顯微觀察。配置落射DIC觀察係統與(yu) 透射照明係統、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體(ti) 感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀(yi) 器，可選用微分幹涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好,是針對半導體(ti) 晶圓檢測、太陽能矽片製造業(ye) 、電子信息產(chan) 業(ye) 、治金工業(ye) 開發的，作為(wei) 高級工業(ye) 金相顯微鏡使用;可進行明場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用於(yu) 工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池矽片、半導體(ti) 晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。

  DMM-1200C電腦型微分幹涉金相顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、*光電轉換技術、*的計算機成像技術*地結合在一起而開發研製成功的一項高科技產(chan) 品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機上很方便地適時觀察金相圖像，並可隨時拍攝記錄金相圖片,從(cong) 而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。