蔡康地質偏光顯微鏡

一、XPF-770C係列偏光顯微鏡的用途和特點:
      XPF-770透反射偏光顯微鏡采用*UCIS無窮遠色差獨立校正光學係統，是地質、礦產(chan) 、冶金等部門和相關(guan) 高等院校的專(zhuan) 業(ye) 實驗儀(yi) 器。 隨著光學技術的不斷進步，偏光顯微鏡的應用範圍也越來越廣闊，可廣泛應用於(yu) 地質、化工、醫療、藥品等領域的研究與(yu) 檢驗，也可進行液態高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與(yu) 高等院校進行研究與(yu) 教學的理想儀(yi) 器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、雲(yun) 母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產(chan) 品。本儀(yi) 器的具有可擴展性，可以接計算機,對圖片進行保存、編輯和打印。

二、性能特點
1、UCIS無窮遠色差獨立校正光學係統，配置無窮遠平場物鏡(中心可調)與(yu) φ20mm大視野目鏡
2、粗微動同軸調焦機構，粗動鬆緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值: 1μm
3、可拆卸式起偏器， 可360°偏振方向旋轉，有0、45、90、135、180、225、270、315四個(ge) 檔位
4、寬電壓電源：透射照明，科勒照明，110-240V自適應式寬電壓，6V20W鹵素燈，亮度連續可調；反射照明：12V50W鹵素燈照明，電源箱寬電壓輸入，可變光欄，偏光、濾色片切換器